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J-GLOBAL ID：202102226120502301   整理番号：21A1421407

SOI技術を用いた新型X線撮像分光器の開発 46:現在の到達点と今後の開発

著者 (25件)： 鶴剛 (京大) ,  田中孝明 (京大) ,  内田裕之 (京大) ,  佳山一帆 (京大) ,  児玉涼太 (京大) ,  松田真宗 (京大) ,  天野雄輝 (京大) ,  川人祥二 (静岡大) ,  安富啓太 (静岡大) ,  亀濱博紀 (沖縄高専) ,  新井康夫 (KEK) ,  倉知郁生 (KEK) ,  森浩二 (宮崎大) ,  武田彩希 (宮崎大) ,  西岡祐介 (宮崎大) ,  行元雅貴 (宮崎大) ,  三枝紀嵐 (宮崎大) ,  米村修斗 (宮崎大) ,  安藤大雅 (宮崎大) ,  石田辰徳 (宮崎大) ,  前野立樹 (宮崎大) ,  幸村孝由 (東京理大) ,  萩野浩一 (東京理大) ,  林田光揮 (東京理大) ,  北島正隼 (東京理大)
資料名： 日本天文学会年会講演予稿集
巻： 2021  号： 春季  ページ： 217  発行年： 2021年02月20日 
JST資料番号： S0300B  ISSN： 1347-0639  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 私達は次世代広帯域X線撮像分光FORCE衛星に搭載予定のX線SOI(Silicon-On-Insulator)ピクセル検出器「XRPIX」を開発している.SOIピクセル検出器はS...【本文一部表示】

シソーラス用語： 放射線 ,  暗電流 ,  画素 ,  *撮像 ,  電流発生 ,  検出器 ,  空乏層 ,  広帯域 ,  *SOI構造 ,  半導体プロセス ,  DA変換器 ,  ピクセル検出器
準シソーラス用語： オンチップ ,  評価実験 ,  CMOS集積回路 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 流星,すい星,いん石  (DB04040A)

タイトルに関連する用語 (3件)： SOI技術 ,  X線撮像分光器 ,  開発