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J-GLOBAL ID:202102275393837123   整理番号:21A1574824

反応性プラズマプロセスを用いた高移動度IGZO薄膜トランジスタの低温形成(III)

Low-temperature Formation of High-Mobility IGZO Thin Film Transistors using Reactive Plasma Processes (III)
著者 (7件):
資料名:
巻: 68th  ページ: ROMBUNNO.19a-P02-8  発行年: 2021年02月26日 
JST資料番号: Y0054B  ISSN: 2758-4704  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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フラットパネルディスプレイの高精細化に向けて、画素の制御駆動素子である薄膜トランジスタ(thin-film transistor,TFT)の高性能化が要求されている。さらにフレキシブルディスプレイの応用を考えた場合、そのTFTのチャネル層材...【本文一部表示】
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発光素子 

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