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J-GLOBAL ID:202102278340455383   整理番号:21A0697804

単結晶Si太陽電池の薄型化へ向けたスライスダメージ評価 II

Slicing damage evaluation for thin Si solar cells: II
著者 (13件):
資料名:
巻: 81st  ページ: ROMBUNNO.11p-Z23-5  発行年: 2020年08月26日 
JST資料番号: Y0055B  ISSN: 2758-4704  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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【背景と目的】近年、結晶シリコン太陽電池のスライスプロセスにおいて、その生産性の高さからダイヤモンドワイヤーソー(DWS)を用いたスライスが主流となっている[1]。しかし、スライス後には表面にダメージ層が形成されることが知られている。シリコ...【本文一部表示】
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
太陽電池  ,  固体デバイス製造技術一般 

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