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J-GLOBAL ID：202102284178700686   整理番号：21A3128411

放射光による溶接材の応力測定(I)-白色X線の利用

Stress Measurements of Welded Part (I)-Using Synchrotron White X-Rays-

著者 (9件)： 鈴木賢治 (新潟大) ,  倉己萌 (新潟大) ,  三浦靖史 (電力中研) ,  城鮎美 (QST) ,  菖蒲敬久 (JAEA) ,  豊川秀訓 (JASRI) ,  豊川秀訓 (QST) ,  佐治超爾 (JASRI) ,  梶原堅太郎 (JASRI)
資料名： X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集  (Proceedings of the Symposium on X-Ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials)
巻： 55th  ページ： 86-89  発行年： 2021年 
JST資料番号： F0605B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・本稿では,シンクロトロン放射光の高エネルギーX線の特徴を生かした,溶接材の応力測定について解説。
・溶接部の白色X線による回折像の特徴,溶接部の曲げ応力,および溶接部の応力分布について,測定例を提示して解説。

シソーラス用語： シンクロトロン放射 ,  X線 ,  *X線応力測定 ,  *溶接部 ,  *応力分布 ,  曲げ応力 ,  白色X線

分類 (3件)： 溶接部  (WC07100I) ,  金属材料  (HC02020X) ,  X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (3件)：

• K. Suzuki, A. Shiro, H. Toyokawa, C. Saji, T. Shobu,“A feasibility study on X-ray stress measurement with CdTe pixel detector”, Journal of the Society of Materials Science, Japan, Vol. 69, No. 4, pp. 293-299 (2020).
• K. Suzuki, A. Shiro, H. Toyokawa, C. Saji, T. Shobu,“Double-Exposure Method with Synchrotron White X-ray for Stress Evaluation of Coarse-Grain Materials”, Quantum Beam Sci., Vol. 4, No. 3, pp. 1-14 (2020).
• http://kikai.ed.niigata-u.ac.jp/CdTe/95x100/index_95x100.html

タイトルに関連する用語 (4件)： 放射光 ,  溶接材 ,  応力測定 ,  白色X線