特許
J-GLOBAL ID：202103002354894231
磁化測定装置、測定システム及びその測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-139027
公開番号（公開出願番号）：特開2021-039101
出願日： 2020年08月20日
公開日（公表日）： 2021年03月11日
要約：
【課題】試料の磁化や磁化の面内分布を同時に一括して簡便に測定することができる小型の磁化測定装置を提供する。【解決手段】磁場コイル13及び前記磁場コイル13への電流供給のオン、オフを行うスイッチを少なくとも有して構成されるパルス状の磁場を発生するパルス磁場発生手段と、光源26、直線偏光素子及びレンズを有して構成される光学系と、光学系を介して撮像を行う撮像手段23とを有し、電流供給のオンのタイミングと前記撮像のタイミングを調整する同期手段25を有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
磁場コイル及び前記磁場コイルへの電流供給のオン、オフを行うスイッチを少なくとも有して構成されるパルス状の磁場を発生するパルス磁場発生手段と、
光源、直線偏光素子及びレンズを有して構成される光学系と、
前記光学系を介して撮像を行う撮像手段を有し、
前記パルス状の磁場が極大となるタイミングと前記撮像のタイミングを調整する同期手段を有する、磁化測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (11件)：
2G017AA08
, 2G017AD13
, 2G017CA01
, 2G017CB24
, 2G053AA07
, 2G053AB01
, 2G053AB13
, 2G053BA02
, 2G053BB11
, 2G053BC14
, 2G053CA09
