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J-GLOBAL ID：202202225692764152   整理番号：22A0046379

金属-分子結合の破断過程における単分子接合の電子構造評価

Evaluating electronic structure of single-molecule junctions during the breaking process of chemical bonds at the metal-molecule interface

著者 (3件)： 一色裕次 (東京工大 大学院) ,  西野智昭 (東京工大 大学院) ,  藤井慎太郎 (東京工大 大学院)
資料名： 分子科学討論会講演プログラム&要旨(Web)  (Program & Abstract. Annual Meeting of Japan Society for Molecular Science (Web))
巻： 15th  ページ： ROMBUNNO.1D07 (WEB ONLY)  発行年： 2021年 
JST資料番号： U0350A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電流電圧特性 ,  *電極 ,  *電子構造 ,  *接合 ,  *表面 ,  *吸着 ,  *分子 ,  *破断 ,  *結合 ,  評価 ,  プローブ ,  金電極 ,  電気伝導 ,  状態 ,  *吸着分子 ,  *金属表面 ,  *表面吸着
準シソーラス用語： 架橋形成 ,  *結合破断 ,  *単分子接合 ,  探針 ,  探針電極 ,  伝導状態

分類 (3件)： 分子の電子構造  (BH05010Q) ,  吸着の電子論  (CB12042Y) ,  物理的手法を用いた吸着の研究  (CB12043P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 分子 ,  破断 ,  過程 ,  単分子接合 ,  電子構造 ,  評価