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J-GLOBAL ID：202202229347166582   整理番号：22A0883057

TEM/STEMトモグラフィーによる最近の研究

Recent Studies on TEM/STEM Tomography

著者 (8件)： 波多聰 (九州大学大学院総合理工学研究院) ,  波多聰 (超顕微解析研究センター) ,  Zhao Yifang (九州大学大学院総合理工学府) ,  井原史朗 (九州大学先導物質化学研究所) ,  斉藤光 (九州大学先導物質化学研究所) ,  光原昌寿 (九州大学大学院総合理工学研究院) ,  村山光宏 (九州大学先導物質化学研究所) ,  村山光宏 (バージニア工科大学工学部材料工学科)
資料名： まてりあ  (Materia Japan)
巻： 61  号： 2  ページ： 84-88(J-STAGE)  発行年： 2022年 
JST資料番号： F0163A  ISSN： 1340-2625  CODEN： MTERE2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・電子線トモグラフィー(ET)は透過型電子顕微鏡(TEM)や走査透過型電子顕微鏡(STEM)による三次元観察手法の一つであり,本稿では,その場ET観察の最近の研究,課題,要素技術の進展について解説。
・ETが最も成功している応用例はナノ材料であるが,バルク材料では,転位のその場ET観察の例が増加しており,パーライト鋼における球状セメントタイトと転位の相互作用を観察した例を紹介。
・その場ET観察における喫緊の課題は時間分解能の向上であり,これに対応するため,高速連続画像収録可能なカメラや,連続的に傾斜角度を変えながら連続撮影が可能な試料ステージゴニオメータの開発を紹介。

シソーラス用語： トモグラフィー ,  電子回折 ,  *透過型電子顕微鏡 ,  透過型走査電子顕微鏡 ,  可視化 ,  *その場観察 ,  ナノ材料 ,  転位【結晶】 ,  共析鋼 ,  時間分解能 ,  ゴニオメータ ,  高速度カメラ ,  傾斜角 ,  三次元可視化 ,  格子欠陥
準シソーラス用語： *電子線トモグラフィー ,  TEM【顕微鏡】 ,  STEM【顕微鏡】 ,  パーライト鋼 ,  傾斜角度

著者キーワード (5件)： three-dimensional (3D) ,  in-situ ,  electron tomography (ET) ,  transmission electron microscopy (TEM) ,  scanning transmission electron microscopy (TEM)

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (23件)：

• (1) Y. Yang, J. Zhou, F. Zhu, Y. Yuan, D. J. Chang, D. S. Kim, M. Pham, A. Rana, X. Tian, Y. Yao, S. J. Osher, A. K. Schmid, L. Hu, P. Ercius and J. Miao: Nat., 592(2021), 60-64.
• (2) S. R. Spurgeon, C. Ophus, L. Jones, A. Petford-Long, S. V. Kalinin, M. J. Olszta, R. E. Dunin-Borkowski, N. Salmon, K. Hattar, W.-C. D. Yang, R. Sharma, Y. Du, A. Chiaramonti, H. Zheng, E. C. Buck, L. Kovarik, R. L. Penn, D. Li, X. Zhang, M. Murayama and M. L. Taheri: Nat. Mater., 20(2021), 274-279.
• (3) J. Zhou, Y. Yang, Y. Yang, D. S. Kim, A. Yuan, X. Tian, C. Ophus, F. Sun, A. K. Schmid, M. Nathanson, H. Heinz, Q. An, H. Zeng, P. Ercius and J. Miao: Nat., 570(2019), 500-503.
• (4) H. Vanrompay, E. Bladt, W. Albrecht, A. Báché, M. Zakhozheva, A. Sánchez-Iglesias, L.M. Liz-Marzán and S. Bals: Nanoscale, 10(2018), 22792-22801.
• (5) A. Skorikov, W. Albrecht, E. Bladt, X. Xie, J. E. S. van der Hoevem, A. van Blaaderenm, S. Van Aert and S. Bals: ACS Nano, 13(2019), 13421-13429.

タイトルに関連する用語 (4件)： TEM ,  STEM ,  トモグラフィー ,  研究