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J-GLOBAL ID：202202237208296810   整理番号：22A1705863

pMOSシリコン量子ドットにおける電荷ノイズのスペクトル評価

Evaluating Charge Noise Spectrum of pMOS Si Quantum Dots

著者 (5件)： 中越一真 (東京工大) ,  高橋洋貴 (東京工大) ,  溝口来成 (東京工大) ,  米田淳 (東京工大) ,  小寺哲夫 (東京工大)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 69th  ページ： ROMBUNNO.23a-E307-7  発行年： 2022年02月25日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 量子コンピュータ実現に向けて様々な量子ビットが研究されている。中でもシリコン量子ドットの少数キャリアスピンは、核スピンの影響をほとんど受けず、高い忠実度と長いコヒーレンス時間を達成できる。しかし、半導体デバイスに共通の電荷ノイズは引き続き重...【本文一部表示】

シソーラス用語： *雑音 ,  *電荷 ,  電場 ,  電流 ,  半導体素子 ,  ゆらぎ ,  *ケイ素 ,  雑音発生器 ,  温度依存性 ,  *スペクトル ,  極低温 ,  少数キャリア ,  二準位系 ,  核スピン ,  *量子ドット

分類 (1件)： 原子・分子のクラスタ  (BH09030O)

タイトルに関連する用語 (7件)： PMOS ,  シリコン ,  量子ドット ,  電荷 ,  ノイズ ,  スペクトル ,  評価