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J-GLOBAL ID:202202271571024577   整理番号:22A0134031

高分解能X線吸収分光法による抵抗スイッチング材料Pt/AlFeO3/Nb:SrTiO3ヘテロ膜の電子状態測定

Electronic structure measurements of Pt/AlFeO3/Nb:SrTiO3 hetero-film for resistance switching material by high resolution X-ray absorption spectroscopy
著者 (7件):
資料名:
巻: 82nd  ページ: ROMBUNNO.13p-N203-1  発行年: 2021年08月26日 
JST資料番号: Y0055B  ISSN: 2758-4704  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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分類 (2件):
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量子光学一般  ,  蛋白質・ペプチド一般 

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