文献
J-GLOBAL ID:202202271571024577
整理番号:22A0134031
高分解能X線吸収分光法による抵抗スイッチング材料Pt/AlFeO3/Nb:SrTiO3ヘテロ膜の電子状態測定
Electronic structure measurements of Pt/AlFeO3/Nb:SrTiO3 hetero-film for resistance switching material by high resolution X-ray absorption spectroscopy
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{{ this.onShowPLink() }}
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{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=22A0134031©=1") }}
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{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=22A0134031&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=Y0055B") }}