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J-GLOBAL ID：202302211936436244   整理番号：23A2028120

電子デバイスに対するESD過渡電磁界の影響評価

Evaluating the effects of ESD transient electromagnetic fields on electronic devices

著者 (12件)： 石田武志 (ノイズ研) ,  川又憲 (東北学院大) ,  戸澤幸大 (ノイズ研) ,  本田昌實 (インパルス物理研) ,  吉田孝博 (東京理大) ,  藤原修 (電通大) ,  大沢隆二 (精工技研) ,  宇野亨 (東京農工大) ,  石上忍 (東北学院大) ,  徳永英晃 (パナソニック) ,  林優一 (奈良先端科学技術大学院大) ,  村川一雄 (大阪工大)
資料名： 電気学会技術報告
号： 1549  ページ： 86P  発行年： 2023年06月09日 
JST資料番号： S0378A  ISSN： 0919-9195  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 静電気放電(ESD)現象及び電気接点の開閉に伴う放電現象は,再現性に乏しくまたその特性において解明されていない現象は多くあり,これらの現象は,条件によってギガヘルツ帯の電磁波を発生する.特にESDについては,温度,湿度などの環境条件により気中での放電現象の振る舞いが異なることは定性的には把握されているが,放電が発生する物体の形状や表面状態,帯電物体の移動速度など多くのパラメータが存在し,これらの要素が複雑な関係に組み合わさり,定量的な解析では十分な段階ではない。このESD現象及び電子デバイスの電磁両立性(EMC)問題を解決するために,電磁環境技術委員会に設置された「電子デバイスに対するESD過渡電磁界の影響調査調査専門委員会」(2017年10月~2020年7月)では主に,(1)放電現象とその発生電磁界の測定及び測定技術の検証,(2)国際規格のESD試験における接触放電及び気中放電の課題抽出とその機構解明,(3)ESD現象で影響される電子回路の電圧測定技術の検証,(4)半導体デバイスの影響とその保護に関する調査,(5)意図的電磁界による電子回路のセキュリティ課題の調査等について検討を行った。本報告は,調査専門委員会における調査結果をまとめたものである。(著者抄録)

シソーラス用語： *固体素子 ,  *放電 ,  *過渡現象 ,  *電磁場 ,  現象 ,  計測 ,  気体放電 ,  電子回路 ,  電圧測定 ,  半導体素子
準シソーラス用語： *電子デバイス ,  *ESD【放電】 ,  放電現象 ,  電磁測定 ,  気中放電

分類 (1件)： 電磁気学一般  (BD01020N)

引用文献 (134件)：

• 電気学会放電ハンドブック出版委員会編,「放電ハンドブック」,オーム社,(1998)
• 三好保憲,「放電形式に関する研究」,生産技術センター,(1979)
• 大木正路,「高電圧工学」,槇書店(1982)
• 大重力,原雅則,「高電圧現象」,森北出版(1973)
• 中森昌紀,岩渕大行,松岡成居,熊田亜紀子,日高邦彦,”マイクロ沿面ギャップにおける絶縁破壊現象”,電気学会研究会資料,高電圧研究会 HV-8-20,pp.31-36(2017)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電子デバイス ,  ESD ,  電磁界 ,  影響評価