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J-GLOBAL ID：202302290759082305   整理番号：23A0205782

マイクロ集光軟X線角度分解光電子分光によるワイドギャップ半導体h-BN薄片のバルク電子状態観測

Electronic structure of the wide-bandgap semiconductor h-BN measured by micro-focused soft x ray angle-resolved photoemission spectroscopy

著者 (11件)： 田中宏明 (東大 物性研) ,  小林賢 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  福島優斗 (東大 物性研) ,  新井陽介 (東大 物性研) ,  飯盛拓嗣 (東大 物性研) ,  山神光平 (JASRI) ,  小谷佳範 (JASRI) ,  小森文夫 (東大 生産技研) ,  黒田健太 (広島大 先進理工) ,  近藤猛 (東大 物性研) ,  笹川崇男 (東京工大 フロンティア創造共同研セ)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 83rd  ページ： ROMBUNNO.23p-B203-11  発行年： 2022年08月26日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 角度分解光電子分光(ARPES)は光電効果を利用して電子状態の直接観測を行う手法である。紫外線・X線の照射によって放出された光電子の運動量ベクトルとエネルギーから、固体結晶中での運動量と結合エネルギーの関係、いわゆるバンド分散を得ることがで...【本文一部表示】

シソーラス用語： 運動量 ,  *化合物半導体 ,  結合エネルギー ,  紫外線 ,  *軟X線 ,  窒素 ,  ホウ素 ,  平均自由行程 ,  価電子バンド ,  ビームライン ,  *集光 ,  *光電子 ,  *電子状態 ,  グラフェン ,  絶縁体 ,  *ワイドギャップ半導体

分類 (1件)： レーダ  (ND13010H)

タイトルに関連する用語 (10件)： マイクロ ,  集光 ,  軟X線 ,  角度分解光電子分光 ,  ワイドギャップ半導体 ,  h-BN ,  薄片 ,  バルク ,  電子状態 ,  観測