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J-GLOBAL ID：202402259692226202   整理番号：24A1210942

有機半導体pentacene薄膜中の電界測定のための表面プラズモン共鳴測定系の構築

Construction of a surface plasmon resonance measurement system for probing electric field distributions in pentacene thin films

著者 (3件)： 井上柊也 (東京工大) ,  田口大 (東京工大) ,  間中孝彰 (東京工大)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告(Web)  (IEICE Technical Report (Web))
巻： 124  号： 7(SDM2024 1-7)  ページ： 8-13 (WEB ONLY)  発行年： 2024年04月13日 
JST資料番号： U2030A  ISSN： 2432-6380  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： ポリアセン ,  *プラズマ共鳴 ,  表面プラズモン ,  *有機半導体 ,  キャリア密度 ,  電位分布 ,  FET【トランジスタ】 ,  電界分布 ,  *表面プラズモン共鳴法
準シソーラス用語： キャリア分布 ,  *表面プラズモン共鳴 ,  有機トランジスタ

分類 (1件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L)

物質索引 (1件)： ペンタセン

タイトルに関連する用語 (6件)： 有機半導体 ,  薄膜 ,  電界測定 ,  表面プラズモン共鳴 ,  測定系 ,  構築