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J-GLOBAL ID：202502212479460196   整理番号：25A1059637

Th-229mの壊変機構の解明に向けた固体試料中の電子状態解析

Electronic State Analysis of Solid Th Compound for Elucidating the Decay Mechanism of Th-229m

著者 (15件)： 益田遼太郎 (大阪大 大学院) ,  益田遼太郎 (理研) ,  金子政志 (大阪大 大学院) ,  風間裕行 (大阪大 大学院) ,  安田勇輝 (大阪大 大学院) ,  橋場奏 (大阪大 大学院) ,  橋場奏 (理研) ,  重河優大 (理研) ,  内藤智也 (理研) ,  内藤智也 (東大) ,  宮本祐樹 (岡山大) ,  吉村浩司 (岡山大) ,  篠原厚 (大阪青山大) ,  笠松良崇 (大阪大 大学院) ,  笠松良崇 (理研)
資料名： 日本放射化学会討論会(Web)  (日本放射化学会討論会講演要旨集(Web))
巻： 68th  ページ： ROMBUNNO.1B09 (WEB ONLY)  発行年： 2024年 
JST資料番号： U1276A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電子状態 ,  *トリウム229 ,  γ崩壊 ,  密度汎関数法 ,  半減期 ,  電子遷移 ,  固体希ガス
準シソーラス用語： *トリウム229m ,  電子架橋遷移

分類 (1件)： 電磁遷移(ガンマ崩壊)  (BG03020K)

タイトルに関連する用語 (5件)： Th ,  固体 ,  試料 ,  電子状態 ,  解析