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J-GLOBAL ID：202502227312050044   整理番号：25A0734461

パルス電子線を用いたカソードルミネセンスによる発光寿命測定

Cathodoluminescence lifetime measurement by pulsed electron beam

著者 (4件)： 稲目航大 (東京工大) ,  柳本宗達 (東京工大) ,  安達良和 (東京工大) ,  三宮工 (東京工大)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 85th  ページ： ROMBUNNO.18a-P01-11  発行年： 2024年09月04日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 1.背景.発光材料の発光ダイナミクスは光学デバイスにおける通信・計算速度を律速するため、発光寿命の測定は重要な技術となる。中でも電子線励起発光であるカソードルミネセンス(CL)による測定では、光の回折限界を超えた光学特性評価が可能となる。近...【本文一部表示】

シソーラス用語： *陰極線ルミネセンス ,  干渉計 ,  光子 ,  *電子ビーム ,  電流 ,  *発光 ,  光回折 ,  指数関数 ,  集群作用 ,  通信 ,  *パルス ,  パルス幅 ,  光学素子 ,  パルス化 ,  *発光寿命

分類 (3件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J) ,  無機化合物のルミネセンス  (BM08093J) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (4件)： パルス ,  電子線 ,  カソードルミネセンス ,  寿命測定