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J-GLOBAL ID:202502234136882141   整理番号:25A1130730

SERS基板プラズマ処理による単一ナノ粒子の分析感度向上にむけた取り組み

Plasma processing of SERS substrates to improve the analytical sensitivity of single nanoparticles
著者 (7件):
資料名:
巻: 39th  ページ: ROMBUNNO.YP02  発行年: 2022年08月03日 
JST資料番号: L1847B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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大気中の二次粒子は直径が100nm以下のナノ粒子としてしばしば観察されるが,それらの小さなサイズは直接の化学組成分析を困難にする。凝縮成長管とSERS基板を...【JST機械翻訳】【本文一部表示】
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分類 (2件):
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粒状物調査測定  ,  赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル一般 
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