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J-GLOBAL ID：202502263405490685   整理番号：25A0577438

ダイナミック光再構成型ゲートアレイVLSIの構成機能の放射線劣化

Radiation degradation evaluation of the configuration circuit on a dynamic optically reconfigurable gate array

著者 (3件)： 大橋聖司 (岡山大 工) ,  渡邊実 (岡山大 工) ,  渡邊誠也 (岡山大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告(Web)  (IEICE Technical Report (Web))
巻： 124  号： 329(VLD2024 76-102)  ページ： 145-149 (WEB ONLY)  発行年： 2025年01月09日 
JST資料番号： U2030A  ISSN： 2432-6380  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ゲートアレイ ,  ホログラムメモリ ,  再構成 ,  *超LSI ,  耐放射線性 ,  *FPGA
準シソーラス用語： *VLSI ,  *光再構成型ゲートアレイ

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 光再構成型ゲートアレイ ,  VLSI ,  放射線