特許
J-GLOBAL ID:202003000771653808

炭化珪素基板、炭化珪素基板の製造方法、および炭化珪素半導体装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉竹 英俊 ,  有田 貴弘
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2019-508768
特許番号:特許第6685469号
出願日: 2018年02月20日
請求項(抜粋):
【請求項1】 基板内側部(11)と、 前記基板内側部(11)を囲む基板外側部(12)と、を備える炭化珪素基板(10)であって、 前記基板内側部(11)の非ドーパント金属不純物濃度は1×1016cm-3以上であり、 前記基板外側部(12)のうち少なくとも表面側の領域は、非ドーパント金属不純物濃度が1×1016cm-3未満の基板表面領域である、 炭化珪素基板(10)。
IPC (7件):
C30B 29/36 ( 200 6.01) ,  C30B 25/20 ( 200 6.01) ,  C30B 19/04 ( 200 6.01) ,  H01L 21/208 ( 200 6.01) ,  H01L 29/861 ( 200 6.01) ,  H01L 29/868 ( 200 6.01) ,  H01L 21/329 ( 200 6.01)
FI (7件):
C30B 29/36 A ,  C30B 25/20 ,  C30B 19/04 ,  H01L 21/208 D ,  H01L 29/91 F ,  H01L 29/91 D ,  H01L 29/91 A
引用特許:
出願人引用 (3件)

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