特許
J-GLOBAL ID：202003015344122742
光学装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (4件)：
西澤 和純
, 伊藤 英輔
, 長谷川 太一
, 鎌田 康一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-180093
公開番号（公開出願番号）：特開2020-051841
出願日： 2018年09月26日
公開日（公表日）： 2020年04月02日
要約：
【課題】温度依存性を低減した光学装置を提供する。【解決手段】光学装置10は、光源からの測定光を測定部11に入射させて、測定対象物の特性を測定する。測定部11は、測定光が入射する入射部11aと、測定面11bと、測定面11bを経由した測定光が、測定部11の外部へと出射する出射部11cと、を備える。測定面11bの表面にはコーティング層12が設けられ、コーティング層12の屈折率は、温度の上昇に伴って増加する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
光源からの測定光を測定部に入射させて、測定対象物の特性を測定する光学装置であって、
前記測定部は、
前記測定光が入射する入射部と、
測定面と、
前記測定面を経由した前記測定光が、前記測定部の外部へと出射する出射部と、を備え、
前記測定面の表面にはコーティング層が設けられ、
前記コーティング層の屈折率は、温度の上昇に伴って増加する、光学装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (9件)：
2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059BB04
, 2G059EE04
, 2G059EE12
, 2G059GG01
, 2G059HH01
, 2G059KK01
, 2G059MM01
