研究者
J-GLOBAL ID:200901047340135550
更新日: 2022年08月17日
飛田 聡
ヒダ アキラ | Hida Akira
所属機関・部署:
旧所属 東京工業大学 原子炉工学研究所 物質工学部門
旧所属 東京工業大学 原子炉工学研究所 物質工学部門 について
「旧所属 東京工業大学 原子炉工学研究所 物質工学部門」ですべてを検索
職名:
助手
研究分野 (1件):
薄膜、表面界面物性
研究キーワード (4件):
光物性
, 電子物性一般
, Optical properties
, Electronic properties in general
競争的資金等の研究課題 (2件):
-
-
MISC (33件):
A Hida, Y Mera, K Maeda. The origin of EL2 family evidenced by STM direct observations of individual photoquenching behaviors. PHYSICA B-CONDENSED MATTER. 2003. 340. 299-303
A Hida, Y Mera, K Maeda. The origin of EL2 family evidenced by STM direct observations of individual photoquenching behaviors. PHYSICA B-CONDENSED MATTER. 2003. 340. 299-303
K Maeda, A Hida, Y Iguchi, Y Mera, T Fujiwara. STM nanospectroscopic studies of individual As-antisite defects in GaAs. MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING. 2003. 6. 5-6. 253-256
K Maeda, A Hida, Y Iguchi, Y Mera, T Fujiwara. STM nanospectroscopic studies of individual As-antisite defects in GaAs. MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING. 2003. 6. 5-6. 253-256
A Hida, A Iwase, Y Mera, T Kambara, K Maeda. STM study of ion tracks created in GaAs by GeVXe ion irradiation. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS. 2003. 209. 140-144
もっと見る
特許 (1件):
走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた光吸収物質の検出方法並びに顕微分光方法
学歴 (4件):
- 2003 東京大学 工学系研究科 物理工学専攻
- 2003 東京大学
- 1998 東京大学 工学部 物理工学科
- 1998 東京大学
学位 (2件):
工学博士 (東京大学)
工学修士 (東京大学)
受賞 (2件):
2000 - 第8回応用物理学会講演奨励賞
2000 - 8th Young Scientist Award for the Presentation of an Excellent Paper
所属学会 (3件):
日本バイオイメージング学会
, 応用物理学会
, 日本物理学会
※ J-GLOBALの研究者情報は、
researchmap
の登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、
こちら
をご覧ください。
前のページに戻る
TOP
BOTTOM