研究者
J-GLOBAL ID：201001032312561105   更新日: 2024年10月08日

塩島 謙次

シオジマ ケンジ | SHIOJIMA Kenji
所属機関・部署：
福井大学 工学系部門 工学領域 電気・電子工学講座

福井大学 工学系部門 工学領域 電気・電子工学講座 について


職名： 教授
ホームページURL (1件)： http://fuee.u-fukui.ac.jp/~shiojima/integrated.html
研究分野 (1件)： 電子デバイス、電子機器
研究キーワード (1件)： 半導体、電子デバイス、電極界面
競争的資金等の研究課題 (15件)：
  • 2021 - 2024 新規THz波受送信素子向け低温成長Bi系混晶半導体中の欠陥の評価および制御
  • 2018 - 2021 近紫外光を用いた界面顕微光応答法による金属/半導体界面の劣化機構の2次元評価
  • 2017 - 2020 近赤外光励起THz波送受信素子向け低温成長GaAs系混晶半導体の欠陥の評価と制御
  • 2019 - 近紫外光を用いた界面顕微光応答法による金属/半導体界面の劣化機構の2次元評価
  • 2015 - 2018 顕微光応答法による金属/ワイドギャップ半導体界面の不均一な劣化機構の2次元評価
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論文 (95件)：
  • Kenji Shiojima, Hiroki Kawai, Yuto Kawasumi, Hiroshi Takehira, Yuki Wakisaka, Hiroki Imabayashi, Takeshi Iwasaki, Katsuyoshi Komatsu, and Tadaomi Daibou. Local bandgap narrowing in forming state of threshold switching materials. Applied Physics Letters. 2024. 125. 2. 023503-(7)
  • Hiroki Imabayashi, Hitose Sawazaki, Haruto Yoshimura, Masashi Kato, and Kenji Shiojima. Photoelectrical characterization of heavily doped,p-SiC Schottky contacts. Japanese Journal of Applied Physics. 2024. 63. 04SP71-(6)
  • Hiroki Imabayashi, Haruto Yoshimura, Fumimasa Horikiri, Yoshinobu Narita, Hajime Fujikura, Hiroshi Ohta, Tomoyoshi Mishima, and Kenji Shiojima. Two-Dimensional Characterization of Au/Ni/Thin Heavily-Mg-Doped p-/n-GaN Structure under Applied Voltage by Scanning Internal Photoemission Microscopy. Phys. Status Solidi B. 2024. 2400033-(7)
  • Kenji Shiojima. Characterization of Metal/GaN Schottky Contacts --Review from the Early Days--. ECS Transactions. 2023. 112. 1. 89-107
  • Hiroki Imabayashi, Kenji Shiojima, Tetsu Kachi. Mapping of ultra-high-pressure annealed n-GaN Schottky contacts using scanning internal photoemission microscopy. Materials Science in Semiconductor Processing. 2023. 162. 107536-(8)
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MISC (66件)：
  • 塩島 謙次, 重宗 翼, 小泉 淳, 児島 貴徳, 柏木 行康, 斉藤 大志, 長谷川 貴洋, 千金 正也, 藤原 康文. Agナノインクの印刷により形成したAg/n-GaNショットキー接触の評価. マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集. 2016. 26. 263-266
  • 塩島 謙次, 山本 晋吾, 木原 雄平. Mapping of thermal degradation of Au/Ni/n-GaN Schottky diodes using scanning internal photoemission microscopy (電子部品・材料). 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報. 2014. 114. 337. 85-90
  • 塩島 謙次, 山本 晋吾, 木原 雄平. Mapping of thermal degradation of Au/Ni/n-GaN Schottky diodes using scanning internal photoemission microscopy (電子デバイス). 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報. 2014. 114. 336. 85-90
  • 塩島 謙次, 山本 晋吾, 木原 雄平. Mapping of thermal degradation of Au/Ni/n-GaN Schottky diodes using scanning internal photoemission microscopy (レーザ・量子エレクトロニクス). 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報. 2014. 114. 338. 85-90
  • Kenji Shiojima, Hisashi Wakayama, Toshichika Aoki, Naoki Kaneda, Kazuki Nomoto, Tomoyoshi Mishima. High-temperature isothermal capacitance transient spectroscopy study on SiN deposition damages for low-Mg-doped p-GaN Schottky diodes. THIN SOLID FILMS. 2014. 557. 268-271
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特許 (28件)：
  • 評価方法、評価システム、半導体素子の製造方法、及び半導体素子
  • 顕微光応答法による結晶成長層の界面評価方法
  • 半導体変調素子
  • 半導体素子及びその製造方法
  • ショットキーダイオード
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書籍 (14件)：
  • Control of Semiconductor Interfaces
    Materials Science in Semiconductor Processing 2020
  • Semiconductor Process Integration 11
    The Electrochemical Society 2019 ISBN:9781623325824
  • Semiconductor Process Integration 10
    Electrochemical Society 2017 ISBN:9781623324643
  • 電気電子材料
    オーム社 2016 ISBN:9784274216787
  • Thin Solid Films
    Elsevier 2014
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講演・口頭発表等 (238件)：
  • 界面顕微光応答法によるJBS構造の二次元評価
    (第85回応用物理学会秋季学術講演会 2024)
  • Face-to-Face高温高圧アニールによる均一性の向上,~Au/Ni/n-GaNショットキー接触を用いた界面顕微光応答法による二次元評価~
    (第85回応用物理学会秋季学術講演会 2024)
  • Improvement of Uniformity by Face-to-Face Ultra-High-Pressure Annealing Observed by Scanning Internal Photoemission Microscopy Using Au/Ni/n-GaN Schottky Contacts
    (2024 International Conference on Solid State Devices and Materials 2024)
  • Precise Measurements of Small Reverse-Biased-Currents for Large-Barrier Au/Ni/n-GaN Schottky Contacts
    (2024 International Conference on Solid State Devices and Materials 2024)
  • 界面顕微光応答法によるGaN JBS構造の電流輸送機構の二次元解析
    (2024年度 日本材料学会 半導体エレクトロニクス部門委員会 第1回研究会 2024)
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Works (1件)：
  • クイズゲームソフト”NHK紅白クイズ合戦”
    塩島 謙次 2009 -
学歴 (2件)：
  • 1989 - 1992 東京都立大学 工学研究科 電気工学専攻博士課程
  • 1989 - 1992 東京都立大学 大学院博士後期課程 電気工学専攻
経歴 (6件)：
  • 2017/04 - 現在 福井大学大学院 工学研究科電気・電子工学専攻 教授
  • 2007/04 - 2019/03 金沢工業大学 大学院工学研究科 高信頼ものづくり専攻(虎ノ門) 客員教授
  • 2007/04 - 2017/03 福井大学大学院 工学研究科電気・電子工学専攻 准教授
  • 2008/04 - 2016/03 福井工業高等専門学校 電子情報工学科 非常勤講師
  • 2006/04 - 2007/03 福井大学大学院 工学研究科電気・電子工学専攻 助教授
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委員歴 (41件)：
  • 2020/04 - 現在 独立行政法人日本学術振興会R025先進薄膜界面機能創成委員会 企画幹事長
  • 2018/06 - 現在 日本材料学会 編集委員会査読委員
  • 2011 - 現在 電子材料シンポジウム 論文委員
  • 2007 - 現在 応用物理学会 学術講演会プログラム編集委員
  • 2021/09 - 2021 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2021) Chair (Area 3 “Interconnection /3D Integrations/MEMS”)
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受賞 (5件)：
  • 2024/07 - Arerican Institure of Physics Featured Article in Applied Physics Letters Local bandgap narrowing in forming state of threshold switching materials
  • 2022/10 - ADMETA 2022 plus Poster Award Internal Photoemission Characterization for Low-Temperature-Grown GaAsBi Layers
  • 2012/03 - 電子情報通信学会北陸支部 平成23年度電気関係学会北陸支部連合大会優秀発表賞
  • 2009/03 - 電子情報通信学会 平成20年度エレクトロニクスソサイエティ活動功労賞
  • 2008/04 - 応用物理学会 JJAP(Japanese Journal of Applied Physics)貢献賞
所属学会 (35件)：
10th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-X) ,  電子情報通信学会 ,  日本材料学会 ,  2024 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2024) ,  独立行政法人日本学術振興会R025先進薄膜界面機能創成委員会 ,  日本材料学会 ,  2023 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2023) ,  応用物理学会 ,  14th International Workshop on New Group IV Semiconductor Nanoelectronics ,  電子情報通信学会 ,  9th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-IX) ,  9th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-IX) ,  2021 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2021) ,  独立行政法人日本学術振興会半導体界面制御技術154委員会 ,  日本材料学会 ,  平成30年度「省エネルギー等国際標準開発(国際標準分野)/GaN結晶の転位検出方法に関する国際標準化」、GaN結晶欠陥転位の検出WG ,  日本材料学会 ,  第31,32,33回電子材料シンポジウム ,  電子情報通信学会 ,  6th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-VI) ,  電子情報通信学会 ,  MRS 2012 Spring Meeting ,  独立行政法人日本学術振興会半導体界面制御技術154委員会 ,  6th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-6) ,  2011 SPIE Photonics West ,  第29,30回電子材料シンポジウム ,  電子情報通信学会 ,  電子情報通信学会北陸支部 ,  電気学会 ,  応用物理学会 ,  応用物理学会 ,  電気学会 ,  Electrochemical Society ,  応用物理学会 ,  応用物理学会
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