研究者
J-GLOBAL ID:201401033302730222
更新日: 2023年07月24日
呉 研
Yan Wu
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研究分野 (4件):
ナノ構造物理
, 薄膜、表面界面物性
, 電気電子材料工学
, 電子デバイス、電子機器
研究キーワード (3件):
シリサイド/Si接合
, ショットキー接合
, トンネルFET
競争的資金等の研究課題 (3件):
2016 - 2018 耐放射線照射性に優れた新規トンネルFETの動作実証
2016 - 2017 トンネルFETの駆動電流向上のためのMgSi/Si接合のバンドオフセット観察及び制御
2015 - 2016 MgSi/Siヘテロ接合を利用したSiベースTunnel FETの駆動性能向上
論文 (1件):
和田雄友, 呉研, 高橋芳浩. 微細SOIデバイスの重イオン照射誘起寄生バイポーラ効果抑制. 日本信頼性学会誌. 2017. 39. 3. 145-153
講演・口頭発表等 (64件):
Pocket構造によるトンネルFETの出力特性改善に関する検討
(第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022)
p-n-i-n構造によるトンネルFETの出力特性改善に関する検討
(第69回応用物理学会春季学術講演会 2022)
高圧水蒸気中での陽極酸化法によるプロセス電流評価
(日大理工学術講演会 2020)
ヘテロ接合TFETを用いたCMOS回路に関する検討
(日大理工学術講演会 2020)
トンネルFETにおけるID-VD立ち上がり特性改善に関する検討
(日大理工学術講演会 2020)
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学歴 (2件):
2011 - 2014 東京工業大学 総合理工学研究科 物理電子システム創造工学科
2009 - 2011 東京工業大学 総合理工学研究科 物理電子システム創造工学科
学位 (1件):
東京工業大学 (東京工業大学)
経歴 (2件):
2020/04 - 2023/03 日本大学理工学部 電子工学科 助教
2014/04 - 2020/03 日本大学理工学部 電子工学科 助手
受賞 (1件):
2016/05 - 日本信頼性学会 若手奨励賞 Tunnel FET構造による放射線照射誘起寄生バイポーラ効果低減
所属学会 (1件):
日本応用物理学会
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