研究者
J-GLOBAL ID：201901019638633572
更新日: 2024年02月01日
Holst Stefan
ホルスト シュテファン | Holst Stefan
所属機関・部署：
九州工業大学 大学院情報工学研究院 情報・通信工学研究系
九州工業大学 大学院情報工学研究院 情報・通信工学研究系 について
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職名：
准教授
ホームページURL (1件)：
http://www.s-holst.de/lab
研究分野 (1件)：
計算機システム
研究キーワード (3件)：
回路シムレーション
, 故障診断
, VLSIテスト
競争的資金等の研究課題 (5件)：
2021 - 2025 高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究
2021 - 2023 耐放射線記憶素子の設計とテストに関する研究
2017 - 2021 高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究
2015 - 2018 次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究
2013 - 2018 体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究
論文 (26件)：
Zhang Y, Holst S, Wen X, Miyase K, Kajihara S, Qian J. On the efficacy of scan chain grouping for mitigating IR-drop-induced test data corruption. IEICE Transactions on Information and Systems. 2021. E104D. 6. 816-827
Holst S, Kampmann M, Sprenger A, Reimer J.D, Hellebrand S, Wunderlich H.J, Wen X. Logic Fault Diagnosis of Hidden Delay Defects. Proceedings - International Test Conference. 2020. 2020-November
Holst S, Shi S, Wen X. Targeted partial-shift for mitigating shift switching activity hot-spots during scan test. Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing, PRDC. 2019. 2019-December. 124-129
Holst S, Schneider E, Kochte M.A, Wen X, Wunderlich H.J. Variation-aware small delay fault diagnosis on compressed test responses. Proceedings - International Test Conference. 2019. 2019-November
Fuchs C.M, Chou P, Wen X, Murillo N.M, Furano G, Holst S, Tavoularis A, Lu S.K, Plaat A, Marinis K. A fault-tolerant MPSoC for CubeSats. 2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2019. 2019
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講演・口頭発表等 (18件)：
Stochastic Computing based Neural Networks on Unreliable Hardware
(FTC 2021)
Diagnosing Hidden Delay Defects from Faster-Than-At-Speed Test Responses
(South European Test Seminar (SETS) 2020 2020)
Diagnosing Hidden Delay Defects from Faster-Than-At-Speed Test Responses
(FTC 2020)
Accelerated Timing Simulation and Its Application
(Dagstuhl Workshop "Intelligent Methods for Test and Reliability" 2019)
Logic Fault Diagnosis of Hidden Delay Defects
(FTC 2019)
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学歴 (2件)：
2006 - 2012 シュトゥットガルト大学 計算機アーキテクチャ研究所 情報工学
2000 - 2005 シュトゥットガルト大学 計算機科学・電気工学・情報技術分野 情報工学
学位 (2件)：
博士(理学) (シュトゥトッガルト大学)
Doctor of Science (University of Stuttgart )
経歴 (3件)：
2021/04/01 - 現在 九州工業大学 大学院情報工学研究院 情報・通信工学研究系 准教授
2019/04/01 - 2021/03/31 九州工業大学 大学院情報工学研究院 情報・通信工学研究系 助教
2013/04/01 - 2019/03/31 九州工業大学 大学院情報工学研究院 情報創成工学研究系 助教
受賞 (3件)：
2017/10 - Program Committee of ITC 2017 Distinquished Paper of International Test Conference 2017
2016/11 - Program Committee of ATS 2015 Best Paper of Asian Test Symposium 2015
2008/05 - Program Committee of ETS 2007 Best Paper of European Test Symposium 2007
所属学会 (1件)：
IEEE
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