研究者
J-GLOBAL ID:200901015306810052
更新日: 2020年04月18日
志村 史夫
シムラ フミオ | Shimura Fumio
所属機関・部署:
静岡理工科大学 理工学部 物質生命科学科
静岡理工科大学 理工学部 物質生命科学科 について
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職名:
教授
研究分野 (3件):
電気電子材料工学
, 半導体、光物性、原子物理
, 考古学
研究キーワード (8件):
古代科学・技術・哲学
, 電子材料
, 固体物性(半導体)
, philosophy
, technology
, Ancient science
, Elecronic Materials
, Solid state physics(Semiconductor)
競争的資金等の研究課題 (6件):
生物機能
日本の科学・技術史
現代物理学とインド自然哲学
Bio-function
History of Japanese Science and technology
Modern Physics and Indian natural Philosophy
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MISC (16件):
L ZHONG, H TSUYA, F SHIMURA. MEASUREMENT OF THE ELECTRONIC TRANSFER PROCESS IN NITRIDE FILM ON A SILICON SUBSTRATE VIA PHOTOCONDUCTANCE DECAY. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 1993. 74. 12. 7311-7314
レーザ/マイクロ波光導電法によるチヨクラルスキーシリコンウエーハ中の成長導入欠陥の非接触評価. 応用物理レター(アメリカ). 1993. 63. 21. 2914
誘電体膜に被われたシリコンウエーハの再結合ライフタイムに及ぼす紫外光照射の影響. 応用物理レター(アメリカ). 1993. 63. 9. 1246
シリコン中の光導電少数キャリアライフタイムと表面光起電力拡散距離. 電気化学協会誌(アメリカ). 1993. 140. 11. 3240
PCD法によるシリコン基板上の窒化膜中の電子移動過程の測定. 応用物理学誌(アメリカ). 1993. 74. 12. 7311
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書籍 (41件):
したしむ固体構造論
朝倉書店 2000
生物の超技術
講談社 1999
いま『武士道』を読む
丸善 1999
Ultra technniogy of living Creatures
1999
Present guide to "BUSHIDO"
1999
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Works (10件):
半導体の非接触・非破壊評価法の開発と応用
1987 - 1993
Development and application of non-confact and non-destructive characterization technique for semiconductors
1987 - 1993
チヨクラルスキー法シリコン単結晶の育成と物性評価
1983 - 1987
Growth and characterization of Czochralski silicon Single Crystals
1983 - 1987
化合物半導体中の格子欠陥
1980 - 1983
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学歴 (4件):
- 1974 名古屋工業大学 工学研究科 無機材料工学
- 1974 名古屋工業大学
- 1972 名古屋工業大学 工学部 窯業工学
- 1972 名古屋工業大学
学位 (2件):
工学博士
工学修士
所属学会 (2件):
New York Academy of Science
, 日本応用物理学会
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