研究者
J-GLOBAL ID:200901016272279855
更新日: 2020年08月28日
高橋 敏男
タカハシ トシオ | Takahashi Toshio
所属機関・部署:
東京大学 物性研究所 先端分光研究部門
東京大学 物性研究所 先端分光研究部門 について
「東京大学 物性研究所 先端分光研究部門」ですべてを検索
機関情報を見る
職名:
助教授
研究分野 (2件):
薄膜、表面界面物性
, 数理物理、物性基礎
研究キーワード (4件):
X線・中性子光学
, X線回折法による表面の研究
, X-Ray and Neutron Optics
, Surface studies by X-ray diffraction
MISC (46件):
S Nakatani, K Sumitani, A Nojima, T Takahashi, K Hirano, S Koh, T Irisawa, Y Shiraki. Characterization of amorphous-Si/1ML-Ge/Si(001) interface structure by X-ray standing waves. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS. 2003. 42. 11. 7050-7052
W Yashiro, K Sumitani, Y Yoda, T Takahashi. A phase retrieval method for noncrystalline layers on crystal surfaces. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS. 2003. 42. 10. 6658-6662
T Aoyama, K Akimoto, A Ichimiya, Y Hisada, S Mukainakano, T Emoto, H Tajiri, T Takahashi, H Sugiyama, Zhang, X, et al. Structural study of SiC(0001)3 x 3 surface by surface X-ray diffraction. APPLIED SURFACE SCIENCE. 2003. 216. 1-4. 356-360
S Kusano, S Nakatani, T Takahashi, K Hirano, S Koh, M Ebihara, T Kondo, R Ito. Study on sublattice reversal in a GaAs/Ge/GaAs(001) crystal by X-ray standing waves. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS. 2003. 42. 5A. 2582-2586
K Sumitani, T Takahashi, S Nakatani, A Nojima, O Sakata, Y Yoda, S Koh, T Irisawa, Y Shiraki. Three-dimensional reconstruction of atoms in surface X-ray diffraction. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS. 2003. 42. 2B. L189-L191
もっと見る
学位 (1件):
工学博士 (東京大学)
受賞 (2件):
2003 - IC on USAS Prize
1987 - 日本IBM科学賞
所属学会 (7件):
真空
, 日本結晶成長学会
, American Physical Society
, 日本放射光学会
, 日本結晶学会
, 応用物理学会
, 日本物理学会
※ J-GLOBALの研究者情報は、
researchmap
の登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、
こちら
をご覧ください。
前のページに戻る
TOP
BOTTOM