研究者
J-GLOBAL ID：200901048285609489
更新日: 2020年05月17日
大平 恒公
オオヒラ ツネヒロ | Oohira Tsunehiro
所属機関・部署：
独立行政法人産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 デバイス評価計測グループ
独立行政法人産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 デバイス評価計測グループ について
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ホームページURL (1件)：
http://www.aist.go.jp/RESEARCHERDB/cgi-bin/worker_detail.cgi?call=namae&rw_id=T25917525
MISC (1件)：
T Oohira, A Ando. Monitoring conditions of cantilever during conducting atomic force microscopy spectroscopy measurements. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS. 2006. 45. 3B. 1934-1936
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