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J-GLOBAL ID：200902278061885153   整理番号：06A0320863

導電性原子間力顕微鏡法による分光測定中のカンチレバー状態の追跡

Monitoring Conditions of Cantilever during Conducting Atomic Force Microscopy Spectroscopy Measurements

著者 (2件)： OOHIRA Tsunehiro (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  ANDO Atsushi (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 45  号： 3B  ページ： 1934-1936  発行年： 2006年03月30日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 導電性原子間力顕微鏡法(C-AFM)による分光測定のための実...

シソーラス用語： *スペクトロスコピー ,...
準シソーラス用語： カンチレバー

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分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (4件)：

• A. Ando, K. Miki, R. Hasunuma and Y. Nishioka: Appl. Phys. A 72(2001) Suppl., S223.
• M. Porti, M. Nafria, X. Aymerich, A. Ol-brich and B. Ebersberger: Appl. Phys. Lett.78(2001)4181.
• A. Ando, R. Hasunuma, T. Maeda, K. Sakamoto, K. Miki, Y. Nishioka and T. Sakamoto: Appl. Surf. Sci.162-163(2000)401.
• M. Porti, M. Nafria, M. C. Blum and X. Aymerich: Appl. Phys. Lett.81(2002)3615.

タイトルに関連する用語 (4件)： 導電性原子間力顕微鏡 ,  分光測定 ,  カンチレバー ,  追跡