研究者
J-GLOBAL ID:200901054357338230
更新日: 2020年05月15日
矢野 政顯
ヤノ セイケン | Yano Seiken
所属機関・部署:
高知工科大学 工学部 電子・光システム工学科
高知工科大学 工学部 電子・光システム工学科 について
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職名:
教授
研究分野 (1件):
通信工学
研究キーワード (4件):
デイジタル回路
, デイジタルシステム設計
, Digital Circuit
, Digital System Design
競争的資金等の研究課題 (4件):
低消費電力設計に関する研究
試験容易化設計・技術に関する研究
Study on low power design.
Study on design-for-testability.
MISC (9件):
スキャンパス構成を利用した内蔵メモリの試験. 電子情報通信学会 第10回.回路とシステム軽井沢ワークショップ. 1997. 95-100
Testing embedded memory array through a scannable configuration. 1997. 95-100
S Yano, N Ishiura. Memory array testing through a scannable configuration. INTERNATIONAL WORKSHOP ON MEMORY TECHNOLOGY, DESIGN AND TESTING, PROCEEDINGS. 1997. 87-94
Application of full scan design to embedded memory arrays. IEICE Trans. Fundamentals. 1997. E80-A. 3. 514-520
Embedded memory array testing using a scannable configuration. IEICE Trans. Fundamentals. 1997. E80-A. 10. 1934-1944
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特許 (2件):
記憶回路(平2-15090)
Bit. Slice type Arithmetic Adder Circuit Using Exclusive-OR Logic for use with a Look-Ahead Circuit(usp.4764886)
学歴 (4件):
- 1998 大阪大学 工学研究科 情報システム工学
- 1998 大阪大学
- 1965 大阪大学 工学部 通信工学
- 1965 大阪大学
学位 (1件):
博士(工学) (大阪大学)
所属学会 (3件):
IEEE
, 情報処理学会
, 電子情報通信学会
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