研究者
J-GLOBAL ID:200901055870252703   更新日: 2020年08月26日

日比野 倫夫

ヒビノ ミチオ | Hibino Michio
所属機関・部署:
職名: 教授
研究分野 (3件): 薄膜、表面界面物性 ,  ナノバイオサイエンス ,  ナノ材料科学
研究キーワード (10件): 電子ビーム応用 ,  電子銃 ,  電子レンズ ,  電子顕微鏡 ,  電子光学 ,  Electron beam application ,  Electron gun ,  Electron lens ,  Electron microscopy ,  Electron 0ptics
競争的資金等の研究課題 (6件):
  • 電子顕微鏡の材料科学への応用に関する研究
  • 新機能電子顕微鏡観察法の研究
  • 高性能電子顕微鏡の開発研究
  • Studies on applications of electron microscopy to materials science
  • Studies on new electron microscopy imaging
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MISC (56件):
書籍 (61件):
  • Point Cathode Electron Gun Using Electron Bombardment for Cathode Tip Heating:Numerical Study of Heating Condition for High Brightness Operation
    Pro. 7th Conf. on Electron Beam Technologies 2003
  • Effect of the 5th Order Spherical Aberration on the Phase Contrast Transfer Function of the Spherical Aberration Controlled Objective Lens
    Proc. of China-Japan Joint Seminar on Atomic Level Characterization 2002
  • Effects of Fresnel Corrections for Phase-Shifting Electron Hologram
    Mocroscopy and Microanalysis 2002 2002
  • Deconvolution and noise reduction in electron microscope images with a modified maximum entropy method
    Proc. 15th Int. Congress on Electron Microscopy 2002
  • Numerical analysis of beam focusing property of point cathode electron gun
    Proc. 15th Int. Congress on Electron Microscopy 2002
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学歴 (4件):
  • - 1967 名古屋大学 電気工学
  • - 1967 名古屋大学
  • - 1962 名古屋大学 電子工学
  • - 1962 名古屋大学
学位 (1件):
  • 工学博士 (名古屋大学)
経歴 (10件):
  • 1985 - 2001 名古屋大学 教授
  • 1985 - 2001 Nagoya University, Professor
  • 2001 - - 愛知工業大学 教授
  • 2001 - - Aichi Institute of Technology, Professor
  • 1976 - 1985 名古屋大学 助教授
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委員歴 (6件):
  • 2000 - 日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会 委員長
  • 2000 - Microbeam Analysis 141 Committee of JSPS Chairman
  • 1998 - 1999 Japanese Society of Electron Microscopy President, Counsellor
  • 1987 - 1992 応用物理学会 東海支部評議員
  • 1990 - 1991 日本顕微鏡学会 評議員,常務理事,関西支部長,副会長、会長、顧問
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受賞 (4件):
  • 2003 - 日本顕微鏡学会論文賞
  • 2003 - The Thesis Prize of Japan Society of Microscopy
  • 1986 - 日本電子顕微鏡学会賞(瀬藤賞)
  • 1986 - Seto Award,Japanese Society of Electron Microscopy
所属学会 (8件):
日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会 ,  応用物理学会 ,  電気学会 ,  日本顕微鏡学会 ,  The Institute of Electrical Engineers of Japan ,  The Japan Society of Applied Physics ,  Microbeam Analysis 141 Committee of JSPS ,  Japanese Society of Electron Microscopy
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