研究者
J-GLOBAL ID:200901060949890598   更新日: 2022年09月23日

一村 信吾

Ichimura Shingo
所属機関・部署:
職名: 教授
研究分野 (1件): 薄膜、表面界面物性
論文 (238件):
MISC (123件):
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特許 (7件):
  • 酸化膜改質方法及び酸化膜改質装置
  • 酸化膜形成方法
  • オゾン分解装置及びプロセスシステム
  • オゾン分解装置
  • オゾン濃度測定方法及びその装置
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書籍 (10件):
  • 材料研究のための分光法
    講談社 2020 ISBN:9784065207871
  • ナノ粒子計測
    共立出版 2018 ISBN:9784320044562
  • Nanotechnology Standards
    Springer 2011
  • オージェ電子分光法(表面分析技術選書)
    丸善株式会社 2001
  • 超精密計測がひらく世界
    講談社 1998
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講演・口頭発表等 (17件):
  • 計測分析装置の出力データフォーマット標準化:現状と展望
    (第20回ナノテクノロジー総合シンポジウム(Japan NANO 2022) 2022)
  • Japanese activities in ISO/TC 229 for international standardization of nanotechnologies
    (12th Nanotechnology Assocoation Conference 2020)
  • Toward Construction of Measurement/Characterization Platform for Open Innovation
    (8th Intern. Symp. on Practical Surface Analysis (PSA-19) 2019)
  • International Standardization of Nanotechnologies -Significance and Current Status-
    (ImPACT International Symposium on InSECT 2016 2016)
  • Significance of standardization in an era of global completion-case example of nanotechnology-
    (2nd KVS-VSJ-SSSJ Joint Symposium 2013)
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学位 (1件):
  • 工学博士 (大阪大学)
経歴 (11件):
  • 2018/04 - 現在 早稲田大学 研究戦略センター 教授
  • 2014/07 - 2018/03 名古屋大学 イノベーション戦略室 室長・教授
  • 2012/04/01 - 2014/06/30 独立行政法人 産業技術総合研究所 副理事長
  • 2007/02/16 - 2012/03/31 独立行政法人 産業技術総合研究所 理事
  • 2004/04/01 - 2007/02/15 独立行政法人 産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門長
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