研究者
J-GLOBAL ID：200901080862730412   更新日: 2024年03月04日

樋上 喜信

ヒガミ ヨシノブ | Higami Yoshinobu
研究分野 (1件)： 通信工学
研究キーワード (2件)： 計算機工学 ,  Computer Engineering
競争的資金等の研究課題 (14件)：
  • 2023 - 2026 構造型情報処理アーキテクチャに対するフィールドテスト法
  • 2022 - 2025 メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究
  • 2019 - 2023 つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発
  • 2019 - 2023 アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究
  • 2016 - 2020 高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究
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論文 (153件)：
  • Xihong ZHOU, Senling WANG, Yoshinobu HIGAMI, Hiroshi TAKAHASHI. Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-based Programmable Logic Device. IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems. 2023. E106-D. 10
  • Senling Wang, Shaoqi Wei, Jun Ma, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Akihiro Shimizu, Xiaoqing Wen, Tianming Ni. SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG. DFT. 2023. 1-3
  • Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang. Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning. 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023. 2023
  • Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja. Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction. 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023. 2023
  • Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation. 2022
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MISC (315件)：
  • WEI Shaoqi, 塩谷晃平, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛. グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法. 電子情報通信学会技術研究報告(Web). 2023. 122. 393(DC2022 82-92)
  • 中野潤平, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛. マルチサイクルテストによるテストパターン削減. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2022. 2022
  • 山内崇矢, 稲元勉, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛. 機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2021. 2021
  • 神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛. マルチサイクルの機能動作による故障診断用パターン生成. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2021. 2021
  • WANG Y., Wang S., 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛. マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2021. 2021
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特許 (3件)：
書籍 (2件)：
  • Three-Dimensional Integration of Semiconductors
    Springer 2016
  • LSIテスティングハンドブック
    オーム社 2008
講演・口頭発表等 (23件)：
  • Fault Simulation using Hazard Signals and Its Application to Fault Diagnosis for Delay Faults
    (Int. Conf. for Top and Emerging Computer Scientists 2017)
  • Test Generation Methods for Delay Faults on Clock Lines
    (The 3rd Int. Conf. on Fuzzy Systems and Data Mining 2017)
  • 双方向通信を利用した赤潮予測のための「水産コミュニケーションシステム」開発に関する研究
    (日本水産学会大会講演要旨集 2016)
  • エクスターナルグリッドに対する依存関係を利用した不正解析のリスクを軽減する手法
    (情報処理学会全国大会講演論文集 2016)
  • 赤潮や魚病の発生予測の為の海域情報収集支援システムの開発
    (情報処理学会全国大会講演論文集 2016)
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Works (2件)：
  • 順序回路に対するテスト系列生成とテスト容易化設計に関する研究
    1991 -
  • Test Generation and Design for Testability for Sequential Circuits
    1991 -
委員歴 (5件)：
  • 1999/05 - 2017/05 電子情報通信学会 査読委員
  • 2014/04 - 2017/03 情報処理学会 Transactions on System LSI Design Methogology編集委員
  • 2015/01 - 2016/12 IEEE Shikoku Section Professional Activity Chair
  • 2011/05 - 2015/05 電子情報通信学会 英文誌A編集委員
  • 2007/05 - 2011/05 電子情報通信学会 英文誌D編集委員
受賞 (4件)：
  • 2016/06 - 日本信頼性学会 日本信頼性学会高木賞
  • 2014/07 - IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI 最優秀論文賞
  • 2012/05 - 電子情報通信学会 電子情報通信学会論文賞
  • 2005/05 - 電子情報通信学会 電子情報通信学会論文賞
所属学会 (3件)：
電気電子学会(IEEE) ,  情報処理学会 ,  電子情報通信学会
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