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J-GLOBAL ID：200902002156698282   整理番号：88A0303576

バリスティック電子放出顕微鏡による表面直下の界面の電子構造の直接研究

Direct investigation of subsurface interface electronic strucuture by ballistic-electron-emission microscopy.

著者 (2件)： KAISER W J (California Inst. Technology, CA, USA) ,  BELL L D (California Inst. Technology, CA, USA)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 60  号： 14  ページ： 1406-1409  発行年： 1988年04月04日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面下の界面の電子構造の分光学的研究のためSTMに基づく新し...

シソーラス用語： Schottky障壁 ,...
準シソーラス用語： BEEM ,...

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分類 (2件)： 半導体-金属接触【’81~’92】  (BM03073E) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (4件)： バリスティック電子放出顕微鏡 ,  界面 ,  電子構造 ,  研究