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J-GLOBAL ID：200902002205088738   整理番号：91A0020064

走査電子顕微鏡内での後方散乱電子を用いた転位の観察

Imaging of dislocations using backscattered electrons in a scanning electron microscope.

著者 (4件)： CZERNUSZKA J T (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  LONG N J (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  BOYES E D (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  HIRSCH P B (Univ. Oxford, Oxford, GBR)
資料名： Philosophical Magazine Letters  (Philosophical Magazine Letters)
巻： 62  号： 4  ページ： 227-232  発行年： 1990年10月 
JST資料番号： T0360A  ISSN： 0950-0839  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電界放射電子銃を具備した走査電子顕微鏡に後方散乱電子検出器を...

シソーラス用語： ケイ素 ,...

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分類 (2件)： 格子欠陥の観察・実験技術  (BK12020U) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査電子顕微鏡 ,  後方散乱 ,  電子 ,  転位 ,  観察