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J-GLOBAL ID：200902004335513522   整理番号：91A0057170

隣接2線走査法の原理と縦長画素の採用による精度向上 隣接2線走査法による周囲長計測 (第1報)

Perimeter measurement by dual lines scanning method. Algorithm and accuracy of measurement.

著者 (3件)： 中島勝行 (久留米工高専) ,  大淵豊 (久留米工高専) ,  井上勝敬 (大阪大 溶接工研)
資料名： 溶接学会論文集  (Quarterly Journal of the Japan Welding Society)
巻： 8  号： 4  ページ： 470-475  発行年： 1990年11月 
JST資料番号： Y0413A  ISSN： 0288-4771  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 2次元形状の周囲長,形状係数を高速,高精度で計測可能な隣接2...

シソーラス用語： 長さ測定 ,...
準シソーラス用語： 周囲

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分類 (3件)： 金属組織観察法  (WB01010R) ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O) ,  溶接欠陥  (WC07130P)

引用文献 (5件)：

• 1) 村上,興水,長谷川:Hough変換法のパターン形状特徴抽出法への一般化,電子情報通信学会技術研究報告,88-449(1987),17-24.
• 2) A. Rosenfeld and A. C. Kak : Digital Picture Processing, Vol. 2, ACADEMIC PRESS (1976), 251-253.
• 3) K. Inoue, K. Kimura : A Method for Calculating the Perimeter of Objects for Automatic Recognition of Circular Defects, NDT international, 20-4 (1987), 225-230.
• 4) 井上,木村:「3画素ベクトル法」の原理について,本会論文集,5-2(1987),229-233.
• 5) 井上,木村:「3画素ベクトル法」の応用,本会論文集,6-2(1988),251-255.

タイトルに関連する用語 (8件)： 走査法 ,  原理 ,  縦長 ,  画素 ,  採用 ,  精度向上 ,  周囲長 ,  計測