単色シンクロトロン光によるシリコン表面の光収量分光顕微鏡

文献

J-GLOBAL ID：200902006715070278 整理番号：89A0259129

Photoyield spectromicroscopy of silicon surfaces using monochromatic synchrotron radiation.

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巻： 7 号： 1 ページ： 1-4 発行年： 1989年01月
JST資料番号： C0789B ISSN： 0734-2101 CODEN： JVTAD6 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

Siの表面形状の観察とミクロンスケールの分解能で内殻準位の化...

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その他の構造決定法 , 半導体の表面構造

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