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J-GLOBAL ID：200902007212348283   整理番号：91A0334779

超高速測定のための高速プログラム可能300ps光学遅延スキャナと信号平均化システム

Rapid programmable 300ps optical delay scanner and signal-averaging system for ultrafast measurements.

著者 (3件)： EDELSTEIN D C (IBM Research Division, New York) ,  ROMNEY R B (IBM Research Division, New York) ,  SCHEUERMANN M (IBM Research Division, New York)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 62  号： 3  ページ： 579-583  発行年： 1991年03月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 30Hzでの遅延時間300psの標題スキャナは,コンパクト,...

シソーラス用語： プログラマブルコントローラ ,...

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分類 (1件)： レーザ一般  (BD04030T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 光学 ,  遅延 ,  スキャナ ,  平均