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J-GLOBAL ID：200902007903541012   整理番号：93A0112666

Auger electron spectroscopy depth profiling studies on stationary and rotated samples of a new model metal/semiconductor multilayer structure.

著者 (4件)：
ZALAR A

ZALAR A について

(Inst. Elektroniko in Vakuumsko Tehniko, Ljubljana, YUG)

Inst. Elektroniko in Vakuumsko Tehniko, Ljubljana, YUG について

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HOFMANN S

HOFMANN S について

(Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU)

Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU について

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PANJAN P

PANJAN P について

(Inst. Jozef Stefan, Ljubljana, YUG)

Inst. Jozef Stefan, Ljubljana, YUG について

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KRASEVEC V

KRASEVEC V について

(Inst. Jozef Stefan, Ljubljana, YUG)

Inst. Jozef Stefan, Ljubljana, YUG について


資料名：
Thin Solid Films  (Thin Solid Films)

Thin Solid Films について


巻： 220  号： 1/2  ページ： 191-196  発行年： 1992年11月20日 
JST資料番号： B0899A  ISSN： 0040-6090  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)
タイトルに関連する用語 (1件)：
タイトルに関連する用語
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DEPTh

DEPTh について


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