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J-GLOBAL ID：200902010379770077   整理番号：86A0026538

X線および中性子回折図形のRietveld解析

Rietveld analysis of X-ray and neutron diffraction patterns.

著者 (1件)： 泉富士夫 (無機材質研)
資料名： 鉱物学雑誌  (Journal of the Mineralogical Society of Japan)
巻： 17  号： 1  ページ： 37-50  発行年： 1985年03月 
JST資料番号： G0124A  ISSN： 0454-1146  CODEN： KOBZAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： Rietveld法は粉末回折図形から結晶構造を精密化でき,角...

シソーラス用語： X線回折 ,...
準シソーラス用語： Rietveld解析

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分類 (1件)： 鉱物学一般  (DE08010E)

引用文献 (26件)：

• 1) Rietveld, H. M.: J. Appl. Crystallogr. 2, 65 (1969).
• 2) Cheetham, A. K. and Taylor, J. C.: J. Solid State Chem. 21, 253 (1977).
• 3) Windsor, C. G.: Pulsed Neutron Scattering, Taylor & Francis, London, (1981).
• 4) Albinati, A. and Willis, B. T. M.: J. Appl. Crystallogr. 15. 361 (1982).
• 5) 泉富士夫: X線分析の進歩, 14集,アグネ,東京, 43 (1983).

タイトルに関連する用語 (3件)： X線 ,  中性子 ,  Rietveld解析