重みづけしたランダムテストパタンのための多重分布

文献

J-GLOBAL ID：200902011583171456 整理番号：89A0129888

Multiple distributions for biased random test patterns.

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著者 (1件)：
資料名：
巻： 1988 ページ： 236-244 発行年： 1988年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

ランダムテストは,テストパタンの生成が不要でテスト回路も簡単...

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固体デバイス計測・試験・信頼性

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