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J-GLOBAL ID：200902019149581434   整理番号：92A0838215

液薄膜下腐食のKelvin法による検討

Study of corrosion under liquid film using the Kelvin method.
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著者 (3件)：
水流徹

水流徹 について

(東京工大 工)

東京工大 工 について

, 
横山優子

横山優子 について

(東京工大 工)

東京工大 工 について

, 
王佳

王佳 について

(東京工大 工)

東京工大 工 について


資料名：
腐食防食討論会講演集  (腐食防食討論会予稿集)

腐食防食討論会講演集 について


巻： 39th  ページ： 47-50  発行年： 1992年10月 
JST資料番号： S0520B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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液薄膜下の腐食の電気化学測定にKelvin法を適用した。Ke...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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液膜

液膜 について

,...
準シソーラス用語：
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陰分極

陰分極 について


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分類 (1件)：
分類
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腐食基礎理論,腐食試験 
(WB03020Q)

腐食基礎理論,腐食試験 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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液

液 について

, 
薄膜

薄膜 について

, 
腐食

腐食 について

, 
Kelvin法

Kelvin法 について


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