CMOS回路におけるブリッジ故障(短路)の検査

文献

J-GLOBAL ID：200902026132267660 整理番号：84A0172093

Testing for bridging faults (shorts) in CMOS circuits.

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著者 (1件)：
資料名：
巻： 20th ページ： 717-718 発行年： 1983年
JST資料番号： D0553A ISSN： 0738-100X 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

VLSIの故障検査に利用する固定故障モデルは,回路の短絡故障...

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固体デバイス計測・試験・信頼性

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