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J-GLOBAL ID：200902035674198116   整理番号：90A0091574

100kVでの解像度が2Åより優れたアンニュラ暗視野電子顕微鏡像

Annular dark field electron microscope images with better than 2Å resolution at 100kV.

著者 (3件)： SHIN D H (Cornell Univ., New York) ,  KIRKLAND E J (Cornell Univ., New York) ,  SILCOX J (Cornell Univ., New York)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 55  号： 23  ページ： 2456-2458  発行年： 1989年12月04日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 点分解度が理論限界に近いアンニュラ暗視野(ADF)結像の高解...

シソーラス用語： 格子像 ,...

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分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  超伝導状態の性質一般【’81~’92】  (BM04020J)

タイトルに関連する用語 (3件)： 解像度 ,  暗視野 ,  電子顕微鏡