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J-GLOBAL ID：200902036100181475   整理番号：85A0391818

示差X線回折 波長変化に基づく方法の理論的基礎

Differential X-ray diffraction: A theoretical basis for a technique based on wavelength variation.

著者 (3件)： NICHOLS M C (Sandia National Lab., California) ,  SMITH D K (Pennsylvania State Univ.) ,  JOHNSON Q (Lawrence Livermore National Lab., California)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 18  号： 1  ページ： 8-15  発行年： 1985年02月01日 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 示差回折では,同一材料について異なる条件で二つのパターンを測...

シソーラス用語： X線回折 ,...
準シソーラス用語： DXD ,...

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分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (4件)： X線回折 ,  波長 ,  理論 ,  基礎