文献

J-GLOBAL ID：200902042751682871   整理番号：92A0286626

DIATEST: A Fast Diagnostic Test Pattern Generator for Combinational Circuits.

著者 (3件)： GRUENING T (Univ. Hannover, Hannover, DEU) ,  MAHLSTEDT U (Univ. Hannover, Hannover, DEU) ,  KOOPMEINERS H (Univ. Hannover, Hannover, DEU)
資料名： Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design  (Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design)
巻： 1991  ページ： 194-197  発行年： 1991年 
JST資料番号： D0968C  ISSN： 1092-3152  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (1件)： FAST