文献

J-GLOBAL ID：200902046727995660   整理番号：87A0152027

自己試験回路用の帰還シフトレジスタ

Feedback shift registers for self-testing circuits.

著者 (2件)： WANG L-T (Stanford Univ., CA, USA) ,  MCCLUSKEY E J (Stanford Univ., CA, USA)
資料名： VLSI Systems Design  (VLSI Systems Design)
巻： 7  号： 12  ページ： 50-51,54-56,58  発行年： 1986年12月 
JST資料番号： C0505B  ISSN： 0279-2834  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： n段MLSGの設計のためのハイブリッド計画を2通り示した。m...

シソーラス用語： マイクロプロセッサ ,...
準シソーラス用語： PLA【IC】 ,...

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分類 (1件)： 汎用演算制御装置  (JC04020N)

タイトルに関連する用語 (4件)： 自己 ,  試験回路 ,  帰還 ,  シフトレジスタ