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J-GLOBAL ID：200902048745876271   整理番号：89A0113378

低エネルギー陽子誘起X線放出を利用した元素濃度の深さ方向プロフィル

Depth profiling of element concentration using low energy proton induced X-ray emission.

著者 (3件)： SHAANAN M (Regional Council Misgav, Misgav, ISR) ,  RICHTERV (Technion, Haifa, ISR) ,  KALISH R (Technion, Haifa, ISR)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 35  号： 3/4  ページ： 319-325  発行年： 1988年12月 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 複合物質の表面近傍の組成変化をプロフィル化する,低エネルギー...

シソーラス用語： テルル化カドミウム水銀 ,...
準シソーラス用語： 陽子励起X線分析

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分類 (1件)： 無機物質中の元素の放射化学的分析  (CC06022C)

タイトルに関連する用語 (7件)： 低エネルギー ,  陽子 ,  誘起 ,  X線 ,  放出 ,  元素 ,  深さ方向プロフィル