X線光電子分光法による酸化ビスマスの薄膜の特性評価

文献

J-GLOBAL ID：200902053639763127 整理番号：82A0381983

Characterisation of thin films of bismuth oxide by X-ray photoelectron spectroscopy.

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資料名：
巻： 25 号： 2/3 ページ： 181-189 発行年： 1982年02月
JST資料番号： D0266C ISSN： 0368-2048 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

XPSを用いて酸化ビスマスの真空蒸着薄膜の特性評価を行った。...

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酸化物薄膜 , 電子分光スペクトル

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