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J-GLOBAL ID：200902063794855580   整理番号：92A0047238

プラズマ処理高分子のXPS価電子帯分析

XPS Valence Band Analysis of Plasma-treated Polymers.

著者 (3件)： FOERCH R (Univ. Western Ontario, Ontario, CAN) ,  BEAMSON G (ICI, Cleveland, GBR) ,  BRIGGS D (ICI, Cleveland, GBR)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 17  号： 12  ページ： 842-846  発行年： 1991年11月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ポリエチレン,ポリプロピレンのプラズマ処理による構造変化を標...

シソーラス用語： X線光電子スペクトル ,...
準シソーラス用語： 価電子帯 ,...

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分類 (2件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  放射線高分子化学  (CG03050S)

タイトルに関連する用語 (5件)： プラズマ処理 ,  高分子 ,  XPS ,  価電子帯 ,  分析