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J-GLOBAL ID:200902065222588185   整理番号:86A0541922

p-p-およびn-s.i.-In0.53Ga0.47As/InPヘテロ構造のCV特性

CV profiling on p-p- and n-s.i.-In0.53Ga0.47As/InP heterointerfaces.
著者 (7件):
資料名:
巻: 174  号: 1/3  ページ: 331-336  発行年: 1986年08月 
JST資料番号: C0129B  ISSN: 0039-6028  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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LPE成長した標題のヘテロ構造のCV特性,磁気抵抗を測定。p...
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半導体薄膜 
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