11~250μg/cm<sup>2</sup>Cuに入射する50-165MeVCuイオンのターゲット厚みの関数として得た電荷状態依存・入射エネルギー依存のK-X線放出

MOMOI T; SHIMA K; UMETANI K; MORIYAMA M; ISHIHARA T; MIKUMO T

文献

J-GLOBAL ID：200902072285519686 整理番号：86A0349316

11~250μg/cm²Cuに入射する50-165MeVCuイオンのターゲット厚みの関数として得た電荷状態依存・入射エネルギー依存のK-X線放出

Charge state and incident energy dependence of K X-ray emission as a function of traget thickness for 50-165 MeV Cu ions incident on 11-250 μg/cm² Cu.

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著者 (6件)： , , , , ,
資料名：
巻： 16 号： 1 ページ： 33-40 発行年： 1986年05月
JST資料番号： H0899A ISSN： 0168-583X 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

Cu+Cu衝突時の内殻空孔生成のターゲット厚み依存性を研究し...

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イオンとの相互作用

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11~250μg/cm2Cuに入射する50-165MeVCuイオンのターゲット厚みの関数として得た電荷状態依存・入射エネルギー依存のK-X線放出

11~250μg/cm²Cuに入射する50-165MeVCuイオンのターゲット厚みの関数として得た電荷状態依存・入射エネルギー依存のK-X線放出