文献

J-GLOBAL ID：200902073902380883   整理番号：92A0841868

走査型Hallプローブ顕微鏡

Scanning Hall probe microscopy.

著者 (9件)： CHANG A M (AT&T Bell Lab., New Jersey) ,  HALLEN H D (AT&T Bell Lab., New Jersey) ,  HARRIOTT L (AT&T Bell Lab., New Jersey) ,  HESS H F (AT&T Bell Lab., New Jersey) ,  KAO H L (AT&T Bell Lab., New Jersey) ,  KWO J (AT&T Bell Lab., New Jersey) ,  WOLFE R (AT&T Bell Lab., New Jersey) ,  VAN DER ZIEL J (AT&T Bell Lab., New Jersey) ,  CHANG T Y (AT&T Bell Lab., New Jersey)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 61  号： 16  ページ： 1974-1976  発行年： 1992年10月19日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 試料近傍で表面磁場を高い磁場感度(約0.1G)と空間分解能(...

シソーラス用語： 磁場測定 ,...

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分類 (2件)： 磁気の計測法・機器  (AD07060U) ,  酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

タイトルに関連する用語 (2件)： 走査型 ,  プローブ顕微鏡